[发明专利]可编程参数双态测试数字CMOS的装置和方法无效

专利信息
申请号: 00816649.8 申请日: 2000-08-14
公开(公告)号: CN1402835A 公开(公告)日: 2003-03-12
发明(设计)人: S·S·达利沃尔 申请(专利权)人: 爱特梅尔股份有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 上海专利商标事务所 代理人: 钱慰民
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种包括双向在内I/O的参数测试电路,包含将I/O连接到单个测试链路的逻辑电路(100)。一脉冲向下移动加给该链路,以测试输入缓冲器(132、134、142、146)和输出缓冲器(136、138、144、148)的开关电平。该测试电路的特点是具有将双向的(192-194,196-198)程编为输入端(测试模式1)或输出端(测试模式2)的能力,这样使它的输入和输出缓冲器可被测试。可通过写入外部存取的数据寄存器方便地选择这种测试模式。
搜索关键词: 可编程 参数 测试 数字 cmos 装置 方法
【主权项】:
1、一种适用于测试集成电路(IC)的输入和输出电路的测试电路,该集成电路包含纯输入线路、纯输出线路和双向线路组,每个双向线路组包含一个输入线路,一个输出线路和一个输出启动线路,其特征在于,所述测试电路包含:多个第一耦连电路,每个第一耦连电路与一条纯输入线路相关联,每个第一耦连电路具有第一输入端,第二输入端和一个输出端,各第一耦连电路的第一输入端接到它关联的纯输入线路;多个第一选择器电路,每个第一选择器电路与一条纯输出线路相关联,每个第一选择器电路具有第一和第二输入端,一个输出端和一个控制输入端,控制输入端选择性地将输出端与第一输入端或者第二输入端相耦接,每个第一选择器电路的第一输入端接到它关联的纯输出线路;多个第二耦连电路,每个第二耦连电路与双向线路组关联,每个第二耦连电路具有第一输入端和第二输入端和一个输出端,每个第二耦连电路的第一输入端接到它关联的双向线路组的输入线路;和多个第二选择器电路,每个第二选择器电路与一双向线路组相关联,每个第二选择器电路具有第一和第二输入端,一个输出端和一个控制输入端,控制输入端有选择地将输出端耦接到第一输入端或者第二输入端,每个第二选择器电路的第一输入端接到它关联的双向线路组的输出线路;和一根耦接到各个第一和第二选择器电路的控制输入端的测试选择信号线路;将上述所有耦连电路和选择器电路组成单个测试链路,其中测试链路的开始电路是第一耦连电路之一,其中第一和第二耦连电路的输出各耦接到耦连电路之一或选择器电路之一的第二输入端,其中,第一和第二选择器的第二输入端各耦接到耦连电路之一或选择器电路之一的第二输入端,且测试链路的终止电路是第一选择器电路之一。
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