[发明专利]铟增强的双极晶体管无效
申请号: | 00816738.9 | 申请日: | 2000-10-04 |
公开(公告)号: | CN1408123A | 公开(公告)日: | 2003-04-02 |
发明(设计)人: | T·约翰松;H·诺尔斯特伦 | 申请(专利权)人: | 艾利森电话股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/265 | 分类号: | H01L21/265;H01L21/331;H01L29/73 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 杨凯,陈霁 |
地址: | 瑞典斯*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 描述通过在晶体管的基极中加入铟来改进双极高频硅晶体管性能的方法。不是采用铟取代硼、以高β和高基极电阻为代价来提高β-厄雷电压乘积,而是将独立的硼、铟掺杂分布结合在基极中。晶体管既保留了纯粹硼基极晶体管的大部分特性,又因铟分布的加入而改善一些参数。这种“双面”或“加入铟”的晶体管展示了提高的β-厄雷电压乘积,抑制了集电极-基极电容摆动,降低了β的温度依赖性,还保留了纯粹硼基极晶体管的优点。为收到满意效果,必须以这样的方式把铟分布包含在硼分布范围内,使得β和有效基极宽度基本上不受影响,否则将破坏高频性能。还给出双极高频硅NPN晶体管的典型制造工艺,并有因附加的铟注入而改善的参数的记录。 | ||
搜索关键词: | 增强 双极晶体管 | ||
【主权项】:
1.一种在硅双极晶体管中获得提高的β-厄雷电压乘积和低温度依赖性的方法,其特征在于包括以下步骤:在硅双极晶体管的基极电极中以双分布形式组合硼和铟的掺杂分布,以便在硼掺杂分布内形成铟掺杂分布,使得所述β和有效基极宽基本上不受影响,从而保持所需的β值和基极电阻以及所需的高频特性。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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