[发明专利]用于测量液晶单元参数的方法和装置有效

专利信息
申请号: 01102121.7 申请日: 2001-01-20
公开(公告)号: CN1353298A 公开(公告)日: 2002-06-12
发明(设计)人: 郭海成;邓树端 申请(专利权)人: 香港科技大学
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01N21/21;G01N21/23;G02F1/13;G02F1/133
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蹇炜
地址: 中国*** 国省代码: 香港;81
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摘要: 发明公开了用于确定任意扭曲向列液晶(LC)单元的扭曲角(φ)和迟延值(dΔn)的三种测量方法和装置。这些方法使用一个单色光源,例如激光束。只通过调整偏光器和LC单元的方向来获得数据,利用所获得的数据进行数据适配,这样就可以获得扭曲角和迟延值。不需要迟延波板。
搜索关键词: 用于 测量 液晶 单元 参数 方法 装置
【主权项】:
1.一种获得液晶单元的扭曲角和迟延值的方法,包括:将液晶单元放置在第一个偏振器和用作为检偏器的第二个偏振器之间;提供一个输入端单色光源以及用于测量通过该检偏器的光的装置,以及:(a)以任意固定角度固定所述的偏光器-检偏器角度α0;(b)旋转所述的液晶单元,同时记录光的传输;(c)记录步骤(b)中的传输最大值(K1(α0)+K2)和最小值(K1(α0)),并且(d)求解方程:K1(α0)={cosβcos(φ-α0)+sinβsin(φ-α0)1+r2}2K2=r21+r2sin2β同时用图形或数字方式来获得(φ,dΔn)。
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