[发明专利]整体平移和线性延伸情况下的图像校准无效
申请号: | 01102979.X | 申请日: | 2001-02-07 |
公开(公告)号: | CN1308300A | 公开(公告)日: | 2001-08-15 |
发明(设计)人: | B·杨科;S·C·-F·胡 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 陈景峻 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种校准整体平移和线性延伸图像的方法。先是确定基准图像和相应失真测试图像中三个相应线性位移方框的平移参数,再根据三个方框平移参数之间的差值检测有无延伸情况出现,若检测出延伸情况,就估计出延伸系数。在估计出的延伸系数的基础上延伸基准图像,使其与失真的测试图像重叠,由此精心调整。再用精调的延伸系数进行延伸操作,使失真测试图像收缩,然后得失真测试图像与基准图像对齐,求出图像质量数据。 | ||
搜索关键词: | 整体 平移 线性 延伸 情况 图像 校准 | ||
【主权项】:
1.一种检测和校正基准图像与相应的失真测试图像之间的整体平移和延伸的方法,包括下列步骤:用方框相关法检测基准图像与失真的测试图像之间是否有延伸现象;当检测出有延伸现象时,用线性内插操作求出两图像之间的延伸系数;和用线性内插操作和延伸系数对失真的测试图像进行逆延伸操作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于特克特朗尼克公司,未经特克特朗尼克公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01102979.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。