[发明专利]在光谱分析仪中同时检测校准信号和测试信号的光学系统无效
申请号: | 01104753.4 | 申请日: | 2001-02-21 |
公开(公告)号: | CN1318742A | 公开(公告)日: | 2001-10-24 |
发明(设计)人: | D·R·安德森 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/36;G01J3/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张志醒 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种光学系统,通过光隔离的光路将光信号耦合到分立的光检测器上,以对光谱分析仪中的校准信号和测试信号一起进行检测。成对的光纤对称设在光轴任一边,供与一边的输入光纤和另一边的输出光纤准直的光学元件之用。输入光纤分别接收校准信号和测试信号,输出光纤与各检测器连接。光校准源产生处在光学系统第一级光谱范围内的第二级或以上的谱线。衍射光栅将测试信号的第一级光谱分量传送给一个检测器,将校准信号的第二级或以上的谱线从准直光学元件传送给另一检测器。对来自检测器的电信号数字化并进行处理,获得校正误差,以用于校正由光谱分析仪显示的测试信号。 | ||
搜索关键词: | 光谱分析 同时 检测 校准 信号 测试 光学系统 | ||
【主权项】:
1.一种光学系统,具有限定的第一级光谱范围,供同时检测光校准信号和受测试的光信号,其特征在于包括:准直光学元件,具有一个光轴和一个焦平面,供接收光校准信号和受测试的光信号;一个光纤阵列,其中心轴与准直光学元件的光轴处在同一条直线上,其第一和第二对光纤配置在准直光学元件的焦平面上,各对光纤具有一个输入光纤和一个输出光纤,各对光纤的输入和输出光纤对称配置在中心轴的任一边,第一对光纤的输入光纤连接成使其接收受测试的光信号;一个光源,与第二对光纤的输入光纤连接,产生具有处在光学系统第一级光谱范围内的第二级或以上谱线的光校准信号;一个光调谐元件,接收准直光学元件来的光校准信号和受测试的光信号,供在第一级光谱范围内调谐光学系统,从而将受测试光信号的各光谱分量分开,并传送光校准信号的第二级或以上的谱线;第一光检测器,与第一对光纤的输出光纤连接,对受测试光信号的光谱分量敏感,对光校准信号的第二级或以上的谱线不太敏感;和第二光检测器,与第二对光纤的输出光纤连接,对光校准信号的第二级或以上的谱线敏感,对受测试光信号的光谱分量不太敏感。
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