[发明专利]反射式介电常数直接测量方法及测量探头无效
| 申请号： | 01107206.7 | 申请日： | 2001-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN1147725C | 公开（公告）日： | 2004-04-28 |
| 发明（设计）人： | 黄卡玛;阎丽萍;赵翔;陈星;刘长军;刘宁 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | G01N22/00 | 分类号： | G01N22/00 |
| 代理公司： | 成都信博专利代理有限责任公司 | 代理人： | 韩运浦 |
| 地址： | 61006*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 反射式介电常数直接测量方法及测量探头是向松散介质发射微波，对采集的反射波进行进行遗传算法计算机处理，直接得到介电常数和相关参数。包括微波信号源、微波测量探头、适当的接口电路和计算机。专用微波测量探头是内导体比外导体长的终端开口同轴线，探头外涂敷防腐保护层。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 介电常数 直接 测量方法 测量 探头 | ||
【主权项】：
1、一种反射式介电常数直接测量方法，包括微波信号源(1)，其特征在于还包括：反射特性分析电路(2)、微波频率范围内样品附近的微波测量探头(3)、接口电路(5)和计算机(6)；微波信号源输出的功率信号Pi经反射特性分析电路(2)与微波测量探头(3)相连；微波信号源输出的功率信号Pi与微波测量探头(3)在液体、粉状等松散介质中产生的反射信号Pr2为反射特性分析电路(2)的输入信号，反射特性分析电路(2)则输出测量直流幅度信号Vda及直流相位信号Vdp，经适当的接口电路(5)后变换为数据信号输入计算机(6)；计算机对采集的数据信号进行优化迭代遗传算法运算后，直接输出测得的介电常数及相关参数。
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