[发明专利]电子器件绝缘用微晶玻璃无效
申请号: | 01108662.9 | 申请日: | 2001-07-24 |
公开(公告)号: | CN1398805A | 公开(公告)日: | 2003-02-26 |
发明(设计)人: | 黄宗家;陈军平;倪世龙;陈晓林;郑超;方超;欧阳彬;王学斌;黄艳 | 申请(专利权)人: | 成都旭光电子股份有限公司 |
主分类号: | C03C10/12 | 分类号: | C03C10/12;C03B32/02;H01B3/08 |
代理公司: | 成都立信专利事务所有限公司 | 代理人: | 黄首一 |
地址: | 610500 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明的电子器件绝缘用微晶玻璃,涉及电子器件绝缘用绝缘材料。旨在解决已有微晶玻璃抗折强度低的问题。本微晶玻璃有按重量份计量的如下组份Li2O8.0~20.0、Al2O34.0~8.0、SiO264.0~78.0、K2O0.5~4.5、B2O31.0~5.0、P2O50.5~4.0,将上述各组份混合,经1350~1500℃熔制,成型;再经460~660℃核化处理0.5~12小时,然后升温至660~880℃晶化处理0.5~24小时,冷却后得到抗折强度240~400MPa、抗电击穿强度为23~30kv/mm、膨胀系数为90×10-7~120×10-7/℃的微晶玻璃。特别适用于制造电子器件的绝缘件,且特别适于与铁镍合金、铁铬合金、铁镍铬合金等金属作匹配封接。 | ||
搜索关键词: | 电子器件 绝缘 用微晶 玻璃 | ||
【主权项】:
1、电子器件绝缘用微晶玻璃,其特征在于有按重量份计量的如下组份:Li2O8.0~20.0、Al2O34.0~8.0、SiO264.0~78.0、K2O0.5~4.5、B2O31.0~5.0、P2O50.5~4.0,将上述各组份混合,经1350~1500℃熔制,成型;再经460~660℃核化处理0.5~12小时,然后升温至660~880℃晶化处理0.5~24小时,冷却后得到抗折强度240~400Mpa、抗电击穿强度为23~30kv/mm、膨胀系数为90×10-7~120×10-7/℃的微晶玻璃。
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