[发明专利]激光测距的信号处理方法及装置无效
| 申请号： | 01109429.X | 申请日： | 2001-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN1374534A | 公开（公告）日： | 2002-10-16 |
| 发明（设计）人： | 赖以仁;简碧尧;黄瑞峰;洪志伟 | 申请（专利权）人： | 亚洲光学股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10;G01S7/483 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种激光测距的信号处理方法及装置,其方法包含有下列步骤A.设定量测区块数及激光发射次数B.自第一量测区块开始,依序于每一区块针对激光反射信号取样统计,藉以找出目标物位于那一区块;C.在目标物所在的区块,发射预定延迟时间的激光光,对反射的激光信号加以取样运算处理,藉以更精密计算出激光测距仪与该目标物的距离。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 测距 信号 处理 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种激光测距的信号处理方法，其特征在于，包含有下列步骤：A.设定量测区块数及激光发射次数：将激光测距的总取样时间TT分为若干区块，并设定每一区块中的激光发射总次数；B.自第一量测区块开始，依序于每一区块针对激光反射信号取样统计，藉以找出目标物位于那一区块；C.在目标物所在的区块发射预定延迟时间的激光光，对反射的激光信号加以取样运算处理，藉以计算出激光测距仪与该目标物的距离；藉此，在不提高取样频率及取样次数的前提下，可有效提升激光测距仪的精确度，并节省激光测距仪所须的存储器。
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