[发明专利]逐次近似模/数转换集成电路的测试方法及电路有效
| 申请号： | 01110247.0 | 申请日： | 2001-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN1378344A | 公开（公告）日： | 2002-11-06 |
| 发明（设计）人： | 潘煌池 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10;H03M1/38 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 王仲贤 |
| 地址： | 台湾*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种逐次近似模/数转换集成电路的测试方法及电路,其适用于对容许电压误差值的逐次近似模/数转换集成电路的检测。本方法首先提出一个模拟取样电压及表示此模拟取样电压的数字取样值。接着,输入将数字取样值加上/减去电压误差值得出的电压上限值/下限值。最后通过将模拟取样电压分别与电压上限值及电压下限值进行的比较,实现对逐次近似模/数转换集成电路是否符合规格的判定。 | ||
| 搜索关键词： | 逐次 近似 转换 集成电路 测试 方法 电路 | ||
【主权项】：
1.一种逐次近似模/数转换集成电路的测试方法，适用于对容许一电压误差值的一逐次近似模/数转换集成电路的测试，包括：提出一模拟取样电压及表示该模拟取样电压的一数字取样值；输入该数字取样值加上该电压误差值得出的一电压上限值，并输入该数字取样值减去该电压误差值得出的一电压下限值；将该模拟取样电压分别与该电压上限值及该电压下限值相比较；当该模拟取样电压大于该电压上限值时，则该逐次近似模/数转换集成电路不符合规格；以及当该模拟取样电压小于该电压下限值时，则该逐次近似模/数转换集成电路不符合规格。
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