[发明专利]位移同步数据采集方法及其装置无效
申请号: | 01113059.8 | 申请日: | 2001-06-01 |
公开(公告)号: | CN1133874C | 公开(公告)日: | 2004-01-07 |
发明(设计)人: | 邵晖;冯哲民;陈大庞 | 申请(专利权)人: | 上海爱普特仪器有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G06K9/20 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 200437 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种用于基因芯片扫描的位移同步数据采集方法,基本点是将习用的等时间间隔数据采样改为位移同步数据采样,实施该方法的装置由码盘、电动机、连轴器、丝杠、位移平台、荧光强度采集系统和计算机组成,电动机带动码盘旋转,码盘脉冲被计算机采集为数字波形,电动机同时驱动位移平台位移,荧光强度采集系统对芯片的每一个像元进行扫描并采集荧光强度数据,送入计算机,进行码盘脉冲参考数据同步重采样,获得等位移采样数据。 | ||
搜索关键词: | 位移 同步 数据 采集 方法 及其 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于基因芯片扫描的位移同步数据采集方法,其特征在于该方法包括下列步骤:(1)由扫描起始点开始,每隔一个像元大小采集一个荧光强度数据,以实现运动位移信息和数据同步采集;(2)一条扫描线的数据自然构成图象的一行;(3)然后纵向步进一个像元间距,再进行下一条扫描线的扫描,构成图象的第2行;(4)如此循环,通过若干次扫描,直至完成芯片的扫描,所得数据的集合构成实际芯片同比例的图象。
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