[发明专利]一种利用波导全息光栅探测光谱的系统和方法无效
申请号: | 01115262.1 | 申请日: | 2001-05-18 |
公开(公告)号: | CN1387027A | 公开(公告)日: | 2002-12-25 |
发明(设计)人: | 忽满利;刘继芳;李育林 | 申请(专利权)人: | 西北大学 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/45 |
代理公司: | 西安西达专利代理有限责任公司 | 代理人: | 李文义 |
地址: | 710069 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明涉及一种探测光谱的系统和方法,特别是一种利用波导全息光栅探测光谱的系统和方法。其技术关键是利用一端镀有反射膜条形波导作为分光装置,将待测光谱转换成波导光栅附近可用线阵CCD探测到的干涉图样,并将探测到的干涉条纹信息送至计算机,用快速傅里叶反变换和波导全息光栅结构参数及入射波长的关系求得待测光谱波长。该探测光谱系统和方法具有分辨率高,可测光谱范围宽,系统装置结构灵巧等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 利用 波导 全息 光栅 探测 光谱 系统 方法 | ||
【主权项】:
1、一种利用波导全息光栅探测光谱的方法,其特征在于:利用一端镀有反射膜(5)的光折变晶体条形波导(3)作为分光装置,将待测光谱转换成波导光栅(4)附近可用线阵CCD探测器(6)探测到的干涉图样,置于波导(3)上表面附近的线阵CCD探测器(6)将探测到的干涉条纹信息送至计算机(7),用快速傅里叶(Fourier)反变换和波导全息光栅(4)结构参数及入射波长的关系求得待测光谱波长。
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