[发明专利]校核盘缺陷管理区信息的方法和进行校核的测试设备无效
| 申请号： | 01116269.4 | 申请日： | 2001-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN1321976A | 公开（公告）日： | 2001-11-14 |
| 发明（设计）人： | 高祯完;郑铉权 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/10 | 分类号： | G11B20/10;G11B20/18 |
| 代理公司： | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种校核当盘记录和再现设备进行清除存在于测试盘上的缺陷管理区中的预定缺陷列表而没有认证的重新初始化时正常生成或更新DMA信息的方法测试设备。包括在利用含有测试基准信息的测试盘的记录和再现设备中进行清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表的重初始化,并从重初始化后生成的DMA信息生成测试信息;将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息比较提供测试信息校核结果。因此用户可短时间内校核给定盘记录和再现设备在重初始化模式中正确生成或更新DMA信息。 | ||
| 搜索关键词： | 校核 缺陷 管理区 信息 方法 进行 测试 设备 | ||
【主权项】：
1．一种校核将信息记录在带有DMA信息的盘上或从带有DMA信息的盘上再现信息的记录和再现设备的DMA信息生成和更新功能的方法，该方法包括：在利用含有测试基准信息的测试盘的记录和再现设备中进行包括清除存在于测试盘上的DMA中的预定缺陷列表在内的重新初始化，并从重新初始化后生成的DMA信息中生成测试信息；和将从测试基准信息中预期的基准信息与测试信息进行比较以提供测试信息的校核结果。
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