[发明专利]用于记录介质的缺陷管理方法有效
| 申请号： | 01117010.7 | 申请日： | 1999-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN1156848C | 公开（公告）日： | 2004-07-07 |
| 发明（设计）人： | 高祯完 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18;G11B20/12;G11B7/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种DVD-RAM盘记录介质，包括记录区、备用区及缺陷管理区(DMA)，其中，包含于所述缺陷管理区的第二级缺陷表(SDL)中的第一至最后SDL项目中含有存储是否线性替换信息的备用位。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 记录 介质 缺陷 管理 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于记录介质的缺陷管理方法，包括下述步骤：记录缺陷管理信息，所述缺陷管理信息表示是否需要通过线性替换操作对记录介质的缺陷单元进行替换；和如果所述缺陷管理信息表示需要通过线性替换对缺陷单元进行替换，则将所述缺陷单元用记录介质的备用区中的一替换单元替换，如果所述缺陷管理信息表示不需要通过线性替换对缺陷单元进行替换，则即使先前指定所述缺陷单元用于进行线性替换，也不对所述缺陷单元进行替换。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/01117010.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
