[发明专利]减少了延迟变动的场效应晶体管无效

专利信息
申请号: 01117216.9 申请日: 1997-01-17
公开(公告)号: CN1389929A 公开(公告)日: 2003-01-08
发明(设计)人: 金子良明 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: H01L29/772 分类号: H01L29/772;H01L21/335
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 在具有第一导电类型的沟道、源和漏区的化合物半导体层内设置减少了延迟变动的场效应晶体管。在上述的区域上分别形成栅、源和漏电极。特别是栅电极设有在与所述源和漏区的相对方向交叉的方向上延伸的伸出部分,并从沟道区伸出。在该化合物半导体层中,形成与第一导电类型相反的第二导电类型的阱区,以便比在沟道、源和漏区内更深地围住沟道区、源区和漏区以及栅电极的伸出部分。通过用第二导电类型的阱区围住包括伸出部分的栅电极,使延迟变动显著地减少。
搜索关键词: 减少 延迟 变动 场效应 晶体管
【主权项】:
1.一种场效应晶体管,包括:第二导电类型的化合物半导体层;与在所述化合物半导体层中形成所述第二导电类型相反的第一导电类型的沟道区;在所述化合物半导体层中配置的、在所述沟道区两侧彼此相对的所述第一导电类型的源和漏区;在所述沟道区上形成的栅电极,其在与所述源和漏区的相对方向交叉的方向上延伸,并设有从所述沟道区延伸出的伸出部分;电连接到所述源和漏区的源和漏电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于富士通株式会社,未经富士通株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01117216.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top