[发明专利]用于光学记录/再现系统的误差信号检测装置与方法无效
申请号: | 01117419.6 | 申请日: | 2001-04-27 |
公开(公告)号: | CN1151499C | 公开(公告)日: | 2004-05-26 |
发明(设计)人: | 马炳寅;崔炳浩;郑钟三;朴仁植;都台镕 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G11B7/09 | 分类号: | G11B7/09;G11B20/18;G11B21/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马莹 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 提供一种用于光学记录/再现系统的误差信号检测方法和装置。该方法包括:按八个光部分检测在记录介质反射和衍射之后通过物镜的入射光;分别将来自至少一位于第一对角方向的外侧光部分和内侧光部分的检测信号、与来自至少一位于第二对角方向的内侧光部分和外侧光部分的检测信号相加,来分别计算至少一第一和信号和一第二和信号;以及比较第一和第二和信号的相位并输出至少一个相位比较信号。这种信号具有高信噪比并较少受脱轨影响。 | ||
搜索关键词: | 用于 光学 记录 再现 系统 误差 信号 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于光学记录/再现系统的误差信号检测方法,该方法包括:(a)检测从记录介质反射和衍射之后通过物镜的入射光,所述光分为排列成2×4矩阵的八个光部分:四个内侧光部分和四个围绕相应的内侧光部分的外侧光部分,其中该矩阵的行和列分别平行于记录介质的切线方向和径向,而且四个内侧光部分形成该矩阵的第二和第三列,四个外侧光部分形成该矩阵的第一和第四列;(b)通过将来自位于第一对角方向的至少一个外侧光部分的检测信号、与来自位于第二对角方向的至少一个内侧光部分的检测信号相加,以计算至少一个第一和信号,其中该第一对角方向是由所述矩阵的第一和第四列所构成的第一子矩阵的第一对角方向,该第二对角方向是由所述矩阵的第二和第三列所构成的第二子矩阵的第二对角方向;(c)通过将来自位于所述第二子矩阵的第一对角方向的至少一个内侧光部分的检测信号、与来自位于所述第一子矩阵的第二对角方向的至少一个外侧光部分的检测信号相加,以计算至少一个第二和信号;以及(d)将第一和第二和信号的相位进行比较并输出至少一个相位比较信号,其中倾斜误差信号根据该相位比较信号检测而得。
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