[发明专利]双摆幅式电荷恢复低功耗电路结构无效

专利信息
申请号: 01120679.9 申请日: 2001-07-26
公开(公告)号: CN1144281C 公开(公告)日: 2004-03-31
发明(设计)人: 李晓民;罗家俊;仇玉林;陈潮枢 申请(专利权)人: 中国科学院微电子中心
主分类号: H01L21/82 分类号: H01L21/82;H03K19/0948;H01L27/092
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 1000*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种双摆幅式电荷恢复低功耗电路结构,包括:第一PMOS管,源极和衬底接在高幅值的脉冲电源,门极和漏极接在A结点和B结点;第二PMOS管,源极和衬底都接在高幅值的脉冲电源上,门极和漏极接在B结点和A结点;第一NMOS管,漏极接在B结点,源极接地,门极接输入信号;第二NMOS管,漏极接在A结点,源极接地,门极接另一输入信号;第三NMOS管,其漏极接在输出结点C,源极接低摆幅的脉冲电源,门极接B结点;第四NMOS管,漏极接在输出结点D,源极接低摆幅的脉冲电源,门极接在A结点;第五NMOS管,漏极接在输出结点C,源极接地,门极接A结点;第六NMOS管,漏极接在输出结点D,源极接地,门极接B结点;所有的NMOS管的衬底均接地。
搜索关键词: 双摆幅式 电荷 恢复 功耗 电路 结构
【主权项】:
1、一种双摆幅式电荷恢复低功耗电路结构,其特征在于:其中包括:第一PMOS管,其源极和衬底都接在高幅值的脉冲电源上,其门极和漏极分别接在A结点和B结点上;第二PMOS管,其源极和衬底都接在高幅值的脉冲电源上,其门极和漏极分别接在B结点和A结点上;第一NMOS管,其漏极接在B结点上,源极接地,门极接输入信号;第二NMOS管,其漏极接在A结点上,源极接地,门极接另一输入信号;第三NMOS管,其漏极接在输出结点C上,源极接低摆幅的脉冲电源,门极接B结点上;第四NMOS管,其漏极接在输出结点D上,源极接低摆幅的脉冲电源,门极接在A结点上;第五NMOS管,其漏极接在输出结点C上,源极接地,门极接A结点上;第六NMOS管,其漏极接在输出结点D上,源极接地,门极接B结点上;以上所述的所有的NMOS管的衬底均接地。
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