[发明专利]提高测试密度的测试方法无效
| 申请号： | 01120698.5 | 申请日： | 2001-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN1405573A | 公开（公告）日： | 2003-03-26 |
| 发明（设计）人： | 吴志成;杨昌国 | 申请（专利权）人： | 吴志成;杨昌国 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 刘朝华 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种提高测试密度的测试方法，用以测试具有多数个待测点的特测物，包括下列步骤提供多数个针体，至少一针体是以倾斜方式设置，电连接于特测物的待测点；提供多数个弹性元件，每一弹性元件设有第一端点及第二端点，第一端点是位于针体下方，每一针体具有弹性回复力；提供多数个导电元件，每一导电元件设有上端点及下端点，每一导电元件的上端点是分别电连接于相对应的弹性元件的第二端点，使测试讯号通过导电元件传递至测试机。具有测试高密度待测点的功效。 | ||
| 搜索关键词： | 提高 测试 密度 方法 | ||
【主权项】：
1、一种提高测试密度的测试方法，其特征是：它包括下列步骤：(1)提供多数个针体，该至少一针体是以倾斜方式设置，使其电连接于该待测物的待测点；(2)提供多数个弹性元件，该每一弹性元件设有第一端点及第二端点，该第一端点是位于该针体下方，使该每一针体具有弹性回复力；(3)提供多数个导电元件，该每一导电元件设有上端点及下端点，该每一导电元件的上端点是分别电连接于相对应的弹性元件的第二端点，将测试讯号通过由该导电元件传递至测试机。
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