[发明专利]MOS型固体摄象装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 01121817.7 申请日: 2001-06-28
公开(公告)号: CN1330409A 公开(公告)日: 2002-01-09
发明(设计)人: 石渡宏明 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/14 分类号: H01L27/14;H01L21/82
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 季向冈
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种MOS型固体摄象装置,即便是MOS器件微细化,也能同时实现电荷传送能力提高和穿通防止。在光电二极管的n-信号存储区域2的正下边,不形成p+型穿通防止区域6。在p型半导体衬底1内形成n-信号存储区域2。在形成光电二极管和读出门电路的器件区域A以外的器件区域B上,在该器件区域B的整个区域上形成p+型穿通防止区域6。此外,为了防止器件间的穿通,也在绝缘隔离层的正下边形成p+型穿通防止区域6。在n型第1半导体区域4的正下边,也可以形成p+型穿通阻挡层5。
搜索关键词: mos 固体 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种MOS固体摄象装置,其特征是:具备:在第1导电类型的半导体衬底内形成的光电变换器件;在上述半导体衬底的第1器件区域内形成的,用来读出由上述光电变换器件产生的电荷的第2导电类型的第1MOS晶体管(transistor);以及在上述半导体衬底的第2器件区域内形成的第2导电类型的第2MOS晶体管,在整个上述第2器件区域上设置用来防止穿通(punch-through)的第1穿通防止区域。
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