[发明专利]晶片洗净装置和方法无效
申请号: | 01124015.6 | 申请日: | 2001-08-06 |
公开(公告)号: | CN1165075C | 公开(公告)日: | 2004-09-01 |
发明(设计)人: | 蔡荣辉;曾素玲;庄娟茹 | 申请(专利权)人: | 矽统科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;B08B1/00;B08B3/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 韩飘扬 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种晶片洗净装置和方法,其目的在于通过连续监测已用作清洗后的水的电性质,而在线上监测晶片的洁净度,该晶片洗净装置包括供水装置、电性质监测装置以及信号传送装置,供水装置用以将水供应至晶片的表面;电性质监测装置则用以连续侦测已用作清洗后的水的电性质,而送出电性质信号;信号传送装置用以接收电性质信号。当电性质信号未达到既定值时,送出继续清洗晶片信号至供水装置,当电性质信号达到既定值时,送出停止清洗晶片信号至供水装置。由监测已用作清洗后的水的电性质。本发明可在线上直接监测晶片的洁净度,避免晶片发生洗净不足或过度洗净的情况,可达到最高的经济效益。 | ||
搜索关键词: | 晶片 洗净 装置 方法 | ||
【主权项】:
1、一种晶片洗净装置,其特征在于:包括:一第一臂和一第二臂;一供水装置,用以将水经由该第二臂供应至一晶片的表面,以清洗晶片的表面;一电性质监测装置,位于上述晶片的下方,用以连续侦测已用作清洗后的水的电性质,而送出一电性质信号;一信号传送装置,与上述电性质监测装置电性连接,用以接收该电性质信号,当该电性质信号未达到一既定值时,送出一继续清洗晶片信号至该供水装置,当该电性质信号达到一既定值时,送出一停止清洗晶片信号至该供水装置;以及一刷洗装置,设置于该第一臂上,用以在以水清洗该晶片的表面时,刷洗该晶片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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