[发明专利]光折变自适应光外差探测方法无效

专利信息
申请号: 01128777.2 申请日: 2001-09-05
公开(公告)号: CN1165779C 公开(公告)日: 2004-09-08
发明(设计)人: 石顺祥;许海平;孙艳玲;陈利菊;李家立;刘继芳 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01V8/10 分类号: G01V8/10;G02F1/335;G01C19/62;G01C19/72
代理公司: 陕西电子工业专利事务所 代理人: 王品华;朱红星
地址: 71007*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种光折变自适应光外差探测方法。主要解决现有同类技术信噪比低,光路调整难等问题。仅采用一个光折变晶体PR,使信号光束(2)和本地激光器Laser的出射光束(8)同时入射到该光折变晶体PR中作为泵浦光束。调整光束(2)和光束(8)的入射位置及入射角度,使光折变晶体PR工作于自泵浦与互泵浦相位共轭共存的状态,所产生的光束(3)为部分信号光束(2)的自泵浦相位共轭反射光,所产生的光束(4)为部分信号光束(2)的互泵浦相位共轭反射光;光束(3)经分束器BS的透射光束(6)与光束(4)经BS的透射光束(7)光路径完全一致,且在光电探测器D的光敏面上准直且波前匹配。具有信噪比高、探测灵敏度高、系统结构简单易调整的优点,可用于激光通讯、雷达、外差光谱学、激光陀螺等光外差探测。
搜索关键词: 折变 自适应 外差 探测 方法
【主权项】:
1.一种光折变自适应光外差探测方法,是用本地激光器的出射光束和信号光束经分束器反射后的光束分别作为光折变晶体的泵浦光束,使入射到光电探测器的光敏面上的两束光准直且波前匹配,其特征在于:a.采用一个光折变晶体,信号光束(2)与本地激光器的出射光束(8)同时入射到该光折变晶体中,分别作为光折变晶体的第一泵浦光束(2)和第二泵浦光束(8);b.调整晶体第一泵浦光束(2)和第二泵浦光束(8)的入射位置及入射角度,使光折变晶体工作于自泵浦相位共轭与互泵浦相位共轭共存的状态;c.自泵浦相位共轭反射光束(3)经分束器的透射光束(6)与互泵浦相位共轭反射光束(4)经分束器的透射光束(7)入射到光电探测器上的光路径完全一致,且在光电探测器的光敏面上准直且波前匹配,以实现光折变自适应光外差探测。
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