[发明专利]一种浅沟道隔离结构的制造方法无效
申请号: | 01129598.8 | 申请日: | 2001-06-28 |
公开(公告)号: | CN1393922A | 公开(公告)日: | 2003-01-29 |
发明(设计)人: | 陈建维;赖俊仁;苏俊联 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/76 | 分类号: | H01L21/76 |
代理公司: | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人: | 王学强 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种浅沟道隔离结构的制造方法,此方法包括提供一个已形成有垫氧化层、罩幕层的基底,且在基底中形成有复数个沟道,在基底上形成绝缘层以填满沟道并覆盖整个基底,再在绝缘层上形成牺牲层,然后以干式回蚀刻法完全去除牺牲层,并去除绝缘层至一预定厚度,此时通过调整蚀刻参数与选择比,继续以干式回蚀刻法去除绝缘层,直至露出罩幕层表面,之后依次去除罩幕层以及垫氧化层,形成表面为圆弧形的绝缘结构。 | ||
搜索关键词: | 一种 沟道 隔离 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种浅沟道隔离结构的制造方法,该方法包括下列步骤:提供一个基底;在该基底上形成一层垫氧化层;在该垫氧化层上形成一层罩幕层;定义该基底,在该基底中形成复数个沟道;然后在该基底上形成一层氧化硅绝缘层以覆盖该基底,并填满该沟道,其特征在于:此后,在该绝缘层上形成一层牺牲层;进行第一次回蚀工艺步骤,去除该牺牲层,并去除该氧化硅绝缘层至一预定厚度,以完成该氧化硅绝缘层的初步平坦化,在该第一次回蚀工艺步骤中,该牺牲层的蚀刻速率低于该氧化硅绝缘层的蚀刻速率;然后,进行第二次回蚀工艺步骤,去除该氧化硅绝缘层直至露出该罩幕层表面;去除该罩幕层;以及去除该垫氧化层,以形成表面为圆弧形的隔离结构。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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