[发明专利]滚转角测量方法及其滚转角测量仪无效
申请号: | 01130893.1 | 申请日: | 2001-08-31 |
公开(公告)号: | CN1166918C | 公开(公告)日: | 2004-09-15 |
发明(设计)人: | 殷纯永;柳忠尧;林德教;蒋弘 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所 | 代理人: | 廖元秋 |
地址: | 1000*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明属于角度的光学测量技术领域,包括在横向塞曼激光器输出端的光轴上设置该半透半反镜,在该半透半反镜的透射光轴上垂直设置有二分之一波片,以及在该反射镜的反射光轴上依次垂直设置有二分之一波片、检偏器及第一光电探测器;在该半透半反镜的反射光轴上垂直设置有第二光电探测器,相位计的输入端与该第一光电探测器、第二光电探测器的输出端相连,所相位计的输出端与所说的计算机相连。本发明使灵敏度在非线性增强的基础上再提高4倍,同时将测量光探测器靠近光源,可以使结构变得更为紧凑,以增强仪器的实用性。 | ||
搜索关键词: | 转角 测量方法 及其 测量仪 | ||
【主权项】:
1、一种滚转角测量方法,包括以下步骤: 1)横向塞曼激光器光源输出频率稳定的正交双频线偏振激光,并经分束成测量光及 参考光,该参考光由光电探测器接收成为参考信号; 2)采用四分之一波片对该正交线偏振测量光进行椭圆化,使之变成椭圆偏振光; 3)使该椭圆偏振光经过作为测量传感器的二分之一波片; 4)再使该光线经过直角反射镜二次反射沿原路折回,第二次经过所说的测量传感 器; 5)该光线再通过检偏器合成; 6)最后该光线由光电探测器接收将得到的交流电信号与所说的参考信号比相,从 而获得被测滚转角的信息。
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