[发明专利]非挥发性内存的结构有效

专利信息
申请号: 01130920.2 申请日: 2001-08-24
公开(公告)号: CN1407624A 公开(公告)日: 2003-04-02
发明(设计)人: 范左鸿;卢道政;蔡文哲 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/105 分类号: H01L27/105
代理公司: 北京集佳专利商标事务所 代理人: 王学强
地址: 台湾省新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种非挥发性内存的结构,包含一基底、一堆栈栅结构以及一源/漏极区。其中,堆栈栅结构位于基底上,源/漏极区位于堆栈栅结构两侧的基底中,且基底内有一垂直阶梯信道掺杂轮廓。此垂直阶梯信道掺杂轮廓分为基底表面下的第一掺杂区,以及位于第一掺杂区下且紧临第一掺杂区的第二掺杂区,其中第二掺杂区的浓度高于第一掺杂区。
搜索关键词: 挥发性 内存 结构
【主权项】:
1.一种非挥发性内存的结构,其特征为:包括:一基底,该基底中具有一垂直阶梯式信道掺杂轮廓,该垂直阶梯式信道掺杂轮廓分为位于该基底表面下的一第一掺杂区,以及位于该第一掺杂区下且紧临该第一掺杂区的一第二掺杂区,其中该第二掺杂区的掺杂浓度高于该第一掺杂区;一堆栈栅结构,位于该基底上;一源/漏极区,位于该堆栈栅结构两侧的该基底中。
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