[发明专利]在磁阻存储器中加速老化的电路装置和方法有效

专利信息
申请号: 01132512.7 申请日: 2001-08-31
公开(公告)号: CN1345068A 公开(公告)日: 2002-04-17
发明(设计)人: H·赫尼施米德 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司
主分类号: G11C11/02 分类号: G11C11/02;G11C5/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正,张志醒
地址: 联邦德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种在MRAM中加速老化的电路装置和方法,其中装设了附加的装置(T5,T6),以便向存储单元(Z)中较靠近软磁层(WM)的控制线(WL)馈入一个较大的电流。
搜索关键词: 磁阻 存储器 加速 老化 电路 装置 方法
【主权项】:
1.在具有存储单元区的MRAM中加速老化的电路装置,在所述的存储单元区中,在两种控制线(WL,BL)的交叉点处布置有许多具有软磁层(WM)和硬磁层(HM)的存储单元(Z),且总是可以通过所述第一控制单元(1,2)向所述的两种控制线馈入控制信号,其特征在于:还装设一个第二控制单元(T5,T6)并联在所述第一控制单元(1,2)上,利用该第二控制单元向所属的控制线(WL)馈入一个比经所述第一控制单元(1,2)所馈入的电流要更大的电流。
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