[发明专利]X射线异物检查装置有效

专利信息
申请号: 01132552.6 申请日: 2001-09-03
公开(公告)号: CN1342898A 公开(公告)日: 2002-04-03
发明(设计)人: 宇野正幸;株本隆司 申请(专利权)人: 株式会社石田
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张天安,温大鹏
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 提供一种X射线异物检查装置,可在装置的局部敞开因而X射线处于非屏蔽状态时,防止因对X射线源3的误操作而使X射线向外部泄漏。作为将物品M以输送机2进行输送的同时以X射线源3发射的X射线对物品M中的异物进行检查的检查装置,具有能够测知装置的局部敞开因而X射线对外处于非屏蔽的状态的敞开检测器4,以及根据对所说X射线非屏蔽状态的测知,使X射线源3停止照射X射线的X射线照射停止机构6。
搜索关键词: 射线 异物 检查 装置
【主权项】:
1.一种将物品以输送机进行输送的同时利用X射线源发射的X射线对物品中的异物进行检查的X射线异物检查装置,其特征是,具备:能够对所说装置的局部敞开而X射线对外处于非屏蔽的状态进行检测的敞开检测器,以及,依据对所说X射线非屏蔽状态进行的检测使来自所说X射线源的X射线停止照射的照射停止机构。
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