[发明专利]光学拾取头装置有效

专利信息
申请号: 01132945.9 申请日: 1998-03-28
公开(公告)号: CN1347091A 公开(公告)日: 2002-05-01
发明(设计)人: 刘长勋;李哲雨 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B7/12 分类号: G11B7/12;G11B7/135;G02B3/08
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 李晓舒
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种兼容至少两种类型光学记录载体的光学拾取头装置,采用具有不同波长的光束来记录和读取信息。其中,该物镜被设计成最适合于较薄的光记录载体,并且该物镜的一侧表面设有由多个环形沟槽组成的环形全息环,而该全息环区域透过由第一光源发出的光束,而对由第二光源发出的光束透过该全息环区域时被衍射。这种光学拾取头装置消除了光学记录载体厚度不同产生的球差。
搜索关键词: 光学 拾取 装置
【主权项】:
1、一种可适用于至少两种类型光记录载体的光学拾取头装置,采用具有不同波长的光束记录和读取信息,其特征在于,所述装置包含:分别发出不同波长光束的第一光源和第二光源,其中发出较短波长光束的第一光源用于较薄的光记录载体,而发出较长波长光束的第二光源用于较厚的光记录载体;用于将所述光源发出的光束聚焦于所述光记录载体的物镜,该物镜被设计成最适合于较薄的光记录载体,并且该物镜的一侧表面设有由多个环形沟槽组成的环形全息环,而该全息环区域透过由第一光源发出的光束,而对由第二光源发出的光束透过该全息环区域时被衍射;用以变换将光源发出的光引向物镜并从光记录载体信息记录面反射的光束光路的光学元件;光电探测器,用以检测自上述光学元件入射的光束中的光学信息。
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