[发明专利]一种解决存储器局部失效的方法

摘要

一种解决存储器局部失效的方法，是通过逻辑IC或ASIC芯片本身的逻辑电路对存储器以缓冲区为单位进行自检，如果该缓冲区的所有存储单元的自检结果是全部正常，则在自检结束后将其首地址写入空闲缓冲区队列中，供以后使用该缓冲区；如果检测到某个缓冲区有失效的存储单元，则其首地址将不被写入空闲缓冲区队列中，使该缓冲区在逻辑IC或ASIC芯片的正常工作中将永远不会被访问；在自检的同时，还对失效缓冲区进行计数，并在自检结束后，读取该计数值及根据失效缓冲区的多少作相应处理当失效缓冲区没有或很少，对系统功能或性能影响很小时，该单板可照常工作；当失效缓冲区的数目较大时，才向系统发出告警信号请求维修或更换单板。

主权项

1、一种解决存储器局部失效的方法，其特征在于：该方法是通过逻辑IC或ASIC芯片本身的逻辑电路对存储器以缓冲区为单位进行自检，如果某个缓冲区的所有存储单元的自检结果是全部正常，则在该缓冲区自检结束后将它的首地址写入到空闲缓冲区队列中，在以后逻辑IC或ASIC芯片的工作中就可以使用该缓冲区；如果检测到某个缓冲区存在有某个或一些存储单元失效，则该缓冲区的首地址将不被写入到空闲缓冲区队列中，使该存在有局部存储单元失效的缓冲区在逻辑IC或ASIC芯片的正常工作中将永远不会被访问到；同时，存储器自检电路在进行存储器自检时，设置一计数器对失效损坏的缓冲区数目进行计数，并在自检完毕后，由CPU读取该统计失效损坏缓冲区计数器的计数值和进行相应的处理，如果失效损坏的缓冲区数目很少，对单板的功能和性能影响不大的情况下，可以认为该单板正常，允许该单板照常工作；当失效损坏缓冲区的数目较大时，可能对单板的功能和性能造成较大影响的情况下，应发出告警信号请求维修或更换单板。