[发明专利]光信息记录介质用反射层或半透明反射层、光信息记录介质和光信息记录介质用溅射靶有效
| 申请号： | 01136657.5 | 申请日： | 2001-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN1361525A | 公开（公告）日： | 2002-07-31 |
| 发明（设计）人： | 中井淳一;大西隆;藤井秀夫;高木胜寿 | 申请（专利权）人： | 株式会社神户制钢所 |
| 主分类号： | G11B7/24 | 分类号： | G11B7/24 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种能够抑制Ag晶粒成长的光信息记录介质用反射层或半透明反射层,其特征在于,用含有Nd0.1～3.0原子%的Ag基合金构成。从而提供了一种当然具有高反射率,而且能够抑制Ag晶粒成长的结构稳定性优良的新型光信息记录介质用反射层·半透明反射层、光信息记录介质以及光信息记录介质用溅射靶。 | ||
| 搜索关键词： | 信息 记录 介质 反射层 半透明 溅射 | ||
【主权项】：
1、一种能够抑制Ag晶粒成长的光信息记录介质用反射层或半透明反射层，其特征在于，用含有Nd0.1～3.0原子％的Ag基合金构成。
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