[发明专利]曝光方法无效
申请号: | 01137027.0 | 申请日: | 2001-10-19 |
公开(公告)号: | CN1350205A | 公开(公告)日: | 2002-05-22 |
发明(设计)人: | 竹内幸一 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G03F7/039 | 分类号: | G03F7/039;G03F7/20;G03F7/26;H01L21/027 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 杜日新 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种图形形成方法,能在衬底平面中形成有均匀尺寸精度的微细光刻胶图形,而不增大生产成本和不延长生产周期。该方法中,用光刻法在衬底上形成含光酸发生剂的第1光刻胶图形后,衬底上涂敷覆盖第1光刻胶图形的含有与酸反应的交联剂的光刻胶膜。第1光刻胶图形与光刻胶膜之间的界面处发生交联反应,生长交联层,形成交联层和第1光刻胶图形构成的第2光刻胶图形,在衬底上涂光刻胶层之前进行第1光刻胶层的光辐射步骤。 | ||
搜索关键词: | 曝光 方法 | ||
【主权项】:
1.一种图形形成方法,包括以下步骤:衬底上形成含有光酸发生剂的第1光刻胶图形;光辐射第1光刻胶图形的曝光表面;光辐射后,衬底上涂敷覆盖第1光刻胶图形的含有能与酸反应的交联剂的光刻胶膜;在第1光刻胶图形与光刻胶层之间的界面处引起交联反应,生长交联层;和形成交联层和第1光刻胶图形构成的第2光刻胶图形。
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