[发明专利]测量荧光材料绝对亮度的装置无效
| 申请号： | 01139182.0 | 申请日： | 2001-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN1428604A | 公开（公告）日： | 2003-07-09 |
| 发明（设计）人： | 牟同升 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人： | 韩介梅 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明的测量荧光材料绝对亮度的装置包括激发源，激发信号取样器，监测激发信号的激发强度探测器，荧光材料试样托盘，亮度探测器及测量仪表，激发光源发出的激发信号入射激发信号取样器，激发信号取样器将入射的激发信号分二路，其一路反射到激发强度探测器，经激发强度探测器将光信号转换成电信号输入测量仪表，另一路照射到荧光材料试样托盘，荧光材料发出的荧光由亮度探测器接收，经亮度探测器光电转换后的亮度信号输入到测量仪表。该测量仪结构简单、价格低、使用方便。可以实时监测入射到荧光材料试样表面的激发信号或辐射照度，可以测定荧光材料样品在单位激发强度或辐射照度下的荧光材料绝对发光亮度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 荧光 材料 绝对 亮度 装置 | ||
【主权项】：
1、测量荧光材料绝对亮度的装置，其特征在于它包括激发源[1]，激发信号取样器[2]，监测激发信号的激发强度探测器[4]，荧光材料试样托盘[3]，亮度探测器[5]及测量仪表[6]，激发光源发出的激发信号入射激发信号取样器[2]，激发信号取样器将入射的激发信号分二路，其一路反射到激发强度探测器[4]，经激发强度探测器[4]将光信号转换成电信号输入测量仪表[6]，另一路照射到荧光材料试样托盘[3]，荧光材料发出的荧光由亮度探测器[5]接收，经亮度探测器[5]光电转换后的亮度信号输入到测量仪表[6]。
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