[发明专利]罩幕式只读存储器的结构与制造方法有效
申请号: | 01139651.2 | 申请日: | 2001-11-30 |
公开(公告)号: | CN1421918A | 公开(公告)日: | 2003-06-04 |
发明(设计)人: | 黄水钦;叶彦宏;范左鸿;杨俊仪;林春荣 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/8246 | 分类号: | H01L21/8246;H01L21/82;H01L27/112 |
代理公司: | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人: | 王学强 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种罩幕式只读存储器的制造方法,此方法是于基底上形成多个具有顶盖层的导体条状物后,于每一个导体条状物的侧壁形成第一间隙壁与第二间隙壁,且第一间隙壁与第二间隙壁下方的基底分别作为第一预定编码区与第二预定编码区。于第一间隙壁与第二间隙壁之间的基底中形成多条埋入式位线后,进行编码布植工艺,依次以第一、第二倾斜角离子植入步骤,分别于部分的第一、第二预定编码区形成多个第一、第二编码掺杂区。在移除顶盖层后,于基底上形成导体层。并定义导体层与导体条状物,以同时形成多条字符线与多个栅极。 | ||
搜索关键词: | 罩幕式 只读存储器 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种罩幕式只读存储器的制造方法,其特征是,该方法包括:于一基底中形成多个具有一顶盖层的导体条状物;于每一导体条状物的侧壁形成一第一间隙壁与一第二间隙壁,其中该些第一间隙壁下方的该基底为一第一预定编码区,该些第二间隙壁下方的该基底为一第二预定编码区;于该些第一间隙壁与该些第二间隙壁之间的该基底中形成多条埋入式位线;于该基底上形成一第一编码罩幕,进行一第一倾斜角离子植入步骤,以在部分的该些第一预定编码区形成多个第一编码掺杂区;去除该第一编码罩幕;于该基底上形成一第二编码罩幕,进行一第二倾斜角离子植入步骤,以在部分的该些第二预定编码区形成多个第二编码掺杂区;去除该第二编码罩幕;去除该顶盖层;于该基底上形成一第一导体层;以及定义该第一导体层并同时定义该些导体条状物,以同时形成多条字符线与多个栅极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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