[发明专利]光学用被覆膜有效

专利信息
申请号: 01140238.5 申请日: 2001-12-07
公开(公告)号: CN1357453A 公开(公告)日: 2002-07-10
发明(设计)人: 熊野胜文;小田尚伸;伊藤明 申请(专利权)人: 东洋纺绩株式会社
主分类号: B32B27/32 分类号: B32B27/32
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种光学用被覆膜,是将厚度50μm以上的透明的双轴定向热塑性树脂膜作为基材,在上述基材的至少一个面具有粘合性改性树脂层的被覆膜,其特征是上述被覆膜的表面上深度1μm以上且长度3mm以上的疵点个数在100个/m2以下。
搜索关键词: 光学 被覆
【主权项】:
1.一种光学用被覆膜,是将厚度50μm以上的透明的双轴定向热塑性树脂膜作为基材,在上述基材的至少一个面具有粘合性改性树脂层的被覆膜,其特征是上述被覆膜的表面上深度1μm以上且长度3mm以上的疵点个数在100个/m2以下。
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