[发明专利]能够测试出差分串行电路单端故障的功能测试方法无效
| 申请号： | 01140538.4 | 申请日： | 2001-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN1415971A | 公开（公告）日： | 2003-05-07 |
| 发明（设计）人： | 段海峰 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/02;G06F11/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518057 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种能够测试出差分串行电路单端故障的功能测试方法，其特征在于包括如下步骤a、通过接口电路分别接入信号；b、分别测试、判断被测差分电路相应的单端输出信号，当两端的信号均正常时，被测差分电路功能正常，否则不正常。本发明测试时每次仅测试一对差分信号的一端，然后通过分别判断所测的两端信号确定被测电路正常与否，从而避免了常规的测试方法带来的漏测问题，能够可靠测试出差分信号单端出现的短路、断线等故障，较好地满足功能测试的要求，保证产品的质量。并且测试电路简单，器件成本低，占用的PCB体积小。 | ||
| 搜索关键词： | 能够 测试 出差 串行 电路 故障 功能 方法 | ||
【主权项】：
1、一种能够测试出差分串行电路单端故障的功能测试方法，其特征在于包括如下步骤：a、通过接口电路分别接入信号；b、分别测试、判断被测差分电路相应的单端输出信号，当两端的信号均正常时，被测差分电路功能正常，否则不正常。
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