[发明专利]动态存储器功能测试方法

摘要

本发明公开一种动态存储器的功能测试方法，其特征是对其分段进行测试，将存储于电可擦除存储器中的程序(其中包含测试程序)搬移到动态存储器中，然后对存储器分段进行测试－搬移－测试－恢复－搬移－测试－恢复，直到完成所有段的测试，在测试过程中如果发现问题，则上报出错信息，中断测试。由于在测试每一段已使用的内存以前都对其中的内容进行了保存，在测试完成以后，又进行了恢复，所以程序一直可以正常运行。本发明利用动态存储器运行速度快的优点，大大提高了测试速度，从而对测试程序代码的效率要求就降低了，这样也就不必再采用汇编语言，用普通的高级语言也就可以了，大大方便了编程调试。

主权项

1、一种动态存储器功能测试方法，其特征是：对其分段进行测试，其步骤如下：1)将存储于电可擦除存储器中的程序，其中包含测试程序，搬移到动态存储器中；2)搬移完成后，先测试所有程序都未使用到的一段动态存储器，测试完成以后如果发现该段有问题，则上报出错信息，中断测试；3)如果该段没有问题，将测试程序搬移到该段已测试过的动态存储器中的某个特定位置，并将已使用但待测试的一段动态存储器中的内容搬移到该段已测试过的动态存储器中保存起来，然后调用测试程序对这段待测试的存储器进行测试，测试完成以后，将测试前就已经保存起来的内容恢复；4)重复第3)步，对另一段已使用但待测试的动态存储器进行测试，直到测完所有各段；在测试过程中如果发现问题，则上报出错信息，中断测试。