[发明专利]物品的预览检验方法及其设备有效
| 申请号： | 01140762.X | 申请日： | 2001-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN1339700A | 公开（公告）日： | 2002-03-13 |
| 发明（设计）人： | 川守田阳一;福田良三;德田一也;村中谦治;五十岚松真 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N27/20;G03G5/12 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于在目测前对检验品预览检验的方法,该方法包括缺陷信号检测步骤用于在所述检验品的缺陷状态的基础上检测缺陷信号,详细缺陷信息产生步骤用于在由所述缺陷信号检测步骤检测到的缺陷信号的基础上产生详细缺陷信息,以及详细缺陷信息显现步骤用于在所述检验品上显现由所述详细缺陷信息产生步骤产生的详细缺陷信息,以及一种用于在目测前对检验品预览检验的设备,该设备包括缺陷信号检测装置用于在所述检验品的缺陷状态的基础上检测缺陷信号,详细缺陷信息产生装置用于在由所述缺陷信号检测装置检测到的缺陷信号的基础上产生详细缺陷信息,以及详细缺陷信息显现装置用于在所述检验品上显现由所述详细缺陷信息产生装置产生的详细缺陷信息。 | ||
| 搜索关键词： | 物品 预览 检验 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
1、一种用于在目测前对检验品预览检验的方法，该方法包括：缺陷信号检测步骤，用于根据所述检验品的缺陷状态检测缺陷信号；详细缺陷信息产生步骤，用于根据由所述缺陷信号检测步骤检测到的缺陷信号产生详细缺陷信息；以及详细缺陷信息显现步骤，用于在所述检验品上显现由所述详细缺陷信息产生步骤产生的详细缺陷信息。
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