[发明专利]化学机械法抛光二氧化硅薄膜用抛光膏无效
申请号: | 01143343.4 | 申请日: | 2001-12-20 |
公开(公告)号: | CN1359997A | 公开(公告)日: | 2002-07-24 |
发明(设计)人: | K·沃格特;L·普佩;闵俊国;陈丽梅;吕新贤 | 申请(专利权)人: | 拜尔公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 卢新华,谭明胜 |
地址: | 联邦德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于化学机械法抛光的抛光膏,它包含5~50重量%的胶体二氧化硅磨料,以及0.1~10重量%通式为R4N+X-的季铵盐,其中,R可以相同或不同,并且选自于由烷基、链烯基、烷芳基、芳烷基以及酯基等基团组成的基团组,X为羟基或卤,它以高抛光速率而突出。 | ||
搜索关键词: | 化学 机械 抛光 二氧化硅 薄膜 | ||
【主权项】:
1.用于化学机械法抛光的抛光膏,包含:5~50重量%的胶体二氧化硅磨料,以及0.1~10重量%通式为R4N+X-的季铵盐,其中,R可以相同或不同,并且选自于由烷基、链烯基、烷芳基、芳烷基以及酯基等基团组成的基团组,X为羟基或卤素。
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