[发明专利]一种金属双镶嵌的制造方法无效

专利信息
申请号: 01143424.4 申请日: 2001-12-26
公开(公告)号: CN1428826A 公开(公告)日: 2003-07-09
发明(设计)人: 陈振隆;林平伟;游曜声;姜兆声;郑丰绪 申请(专利权)人: 矽统科技股份有限公司
主分类号: H01L21/3205 分类号: H01L21/3205;H01L21/4763;H01L21/28;H01L21/441
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
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摘要: 一种金属双镶嵌的制造方法。形成第一介电层于已形成有若干元件的基底上,然后使用含氮电浆对第一介电层进行表面处理。接着依序形成氮化硅层与第二介电层于第一介电层上,图案化第二介电层,以形成第一开口于第二介电层中以暴露出部分的氮化硅层。然后依序图案化暴露出的氮化硅层与其下的第一介电层,以形成第二开口于氮化硅层与第一介电层中,第二开口的宽度小于第一开口的宽度。最后沉积金属于第一开口与第二开口中,以形成金属双镶嵌结构。
搜索关键词: 一种 金属 镶嵌 制造 方法
【主权项】:
1、一种金属双镶嵌的制造方法,该方法至少包括:形成第一介电层于一基底上,该基底上已形成有若干元件;使用含氮电浆对该第一介电层进行一表面处理;形成氮化硅层于该第一介电层上;形成第二介电层于该氮化硅层上;图案化该第二介电层,以形成第一开口于该第二介电层中以暴露出部分的该氮化硅层;依序图案化暴露出的该氮化硅层与其下的该第一介电层,以形成第二开口于该氮化硅层与该第一介电层中,该第二开口的宽度小于该第一开口的宽度;以及沉积金属于该第一开口与该第二开口中,以形成一金属双镶嵌结构。
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