[实用新型]超小型稳态偏振干涉成像光谱仪无效
申请号: | 01213109.1 | 申请日: | 2001-03-15 |
公开(公告)号: | CN2479491Y | 公开(公告)日: | 2002-02-27 |
发明(设计)人: | 张淳民;相里斌;赵葆常;杨建峰 | 申请(专利权)人: | 张淳民 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45 |
代理公司: | 陕西省发明专利服务中心 | 代理人: | 李中群 |
地址: | 710048 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种可用于同时获取目标形影图像和光谱信息的偏振干涉成像光谱仪,由同轴设置的前置光学透镜组、偏振干涉仪、收集光学透镜和面阵探测器组成,其中偏振干涉仪由起偏器、萨瓦偏光镜和检偏器组成,所说的萨瓦偏光镜包括两块等厚单轴负晶萨瓦板,两者的光轴相互垂直且各与系统光轴成45°角;探测器的信号输出端外接至计算机信号处理系统。产品具有结构简单、体积小、无狭缝、高通量、高信噪比、多通道和对远距离目标及微弱信号探测能力强等优点。 | ||
搜索关键词: | 超小型 稳态 偏振 干涉 成像 光谱仪 | ||
【主权项】:
一种超小型稳态偏振干涉成像光谱仪,其特征在于它由沿入射光向同轴依次设置的前置光学透镜组(1)、偏振干涉仪(2)、收集光学透镜(3)和面阵探测器(4)组成,其中:偏振干涉仪(2)由沿系统光轴同轴依次设置的起偏器(21)、萨瓦偏光镜和检偏器(24)组成,所说的萨瓦偏光镜包括两块厚度相同且毗挨设置的单轴负晶萨瓦板(22、23),两负晶萨瓦板(22、23)的光轴相互垂直且分别与系统光轴成45°角;面阵探测器(4)的信号输出端通过联接线与计算机信号处理系统(5)的信号获取输入端联接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于张淳民,未经张淳民许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01213109.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。