[实用新型]长余辉荧光材料测试仪

摘要

本实用新型涉及长余辉荧光材料的余辉参数测量装置。它包括激发光源、控制样品曝光的曝光控制装置、用于曝光和测量的暗箱，在暗箱上安装有样品座，在暗箱内设有接收样品余辉光信号的余辉探测器，余辉探测器的输出端与测量仪表相连。工作时，在曝光控制装置的控制下，样品受到激发光源辐照曝光，曝光结束，样品将不断释放荧光即余辉，由余辉探测器接收余辉，并将余辉光信号转换成电信号输入测量仪表，在仪表显示余辉亮度和余辉时间参数值。本实用新型的长余辉荧光材料测试仪结构紧凑、简单，它利用曝光控制装置和连体的曝光、测量暗箱，将样品的曝光和测量有机地结合在一起，测量数据准确、一致性好，使用方便。

主权项

1.长余辉荧光材料测试仪，其特征是它包括激发光源[1]、控制样品曝光的曝光控制装置[2]、用于曝光和测量的暗箱[3]，在暗箱上安装有样品座[6]，在暗箱内设有接收样品余辉光信号的余辉探测器[4]，余辉探测器[4]的输出端与测量仪表[5]相连。