[实用新型]一种凸非球面检验干涉仪无效

专利信息
申请号: 01272267.7 申请日: 2001-12-18
公开(公告)号: CN2513076Y 公开(公告)日: 2002-09-25
发明(设计)人: 李凤有;卢振武 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G02B3/02
代理公司: 长春科宇专利代理有限责任公司 代理人: 刘树清
地址: 130022 *** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种凸非球面检验干涉仪,属于光学检验技术领域中的一种对凸非球面面型的检验设备。本实用新型要解决的技术问题是能够检验大曲率凸非球面面型,解决技术问题的技术方案是检验样板采用位相型折衍混合检验样板。本实用新型是由激光光源、半反射平面镜、照明透镜、位相型折衍混合检验样板、待测凸非球面、光阑、成像透镜、CCD相机组成的。位相型折衍混合检验样板,容易制作,光的衍射和折射作用相结合,准确地实现标准凸非球面的波前,由于其它结构没有改变,该凸非球面检验干涉仪仍然具有原来的优点,而且检验效果有所提高。
搜索关键词: 一种 球面 检验 干涉仪
【主权项】:
1、一种凸非球面检验干涉仪,是由激光光源、半反射平面镜、照明透镜、检验样板、待检非球面、光阑、成像透镜、CCD相机组成的,其特征在于在光路上照明透镜(11)和待检凸非球面(13)之间的检验样板采用位相型折衍混合检验样板(12)。
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