[发明专利]计测仪检查用计测校准器的设定装置无效
| 申请号： | 01800029.0 | 申请日： | 2001-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN1358267A | 公开（公告）日： | 2002-07-10 |
| 发明（设计）人： | 浅沼进 | 申请（专利权）人： | 株式会社浅沼技研 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 北京银龙专利代理有限公司 | 代理人： | 吴邦基 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种不通过人工在计测仪的计测台上对计测校准器迅速进行设定,同时常设的计测仪在较小的设置空间可容易地设置的计测仪检查用计测校准器设定装置。具有在计测仪2的计测台3端部附近的退避位置与计测台3上的计测位置之间移动计测仪2检查用计测校准器M的移动体。在计测仪进行被计测物的计测时,移动体及计测校准器退避到计测台端附近的退避位置上,在能够有效地使用计测台全体进行计测作业的同时,在被计测物的计测作业的间隙,计测校准器由移动体快速地移动到计测位置并设定,能够高效率地进行精度检查。 | ||
| 搜索关键词： | 计测仪 检查 用计 校准 设定 装置 | ||
【主权项】：
1、一种计测仪检查用计测校准器的设定装置，其特征为，具有在计测仪的计测台端部附近的退避位置与计测台上的计测位置之间移动计测仪检查用计测校准器的移动体。
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