[发明专利]信号干扰比测定装置及信号干扰比测定方法无效

专利信息
申请号: 01800033.9 申请日: 2001-01-15
公开(公告)号: CN1358366A 公开(公告)日: 2002-07-10
发明(设计)人: 三好宪一;平松胜彦 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04B7/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 马莹
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 希望波功率检测部10根据接收信号来检测希望波功率,而干扰波功率检测部11根据接收信号来检测干扰波功率。时间上有先后的干扰波功率由平均部12在长区间范围内进行平均处理,并由平均部13在短区间范围内进行平均处理。差分器14求长区间范围内的平均值和短区间范围内的平均值之间的差分。选择部16在求出的差分大于规定阈值的情况下选择短区间的平均值,而在小于规定阈值的情况下选择长区间的平均值。SIR计算部17求选择部16选择出的平均值和希望波功率检测部10检测出的希望波功率之比。
搜索关键词: 信号 干扰 测定 装置 方法
【主权项】:
1、一种SIR测定装置,包括:希望波功率检测部件,根据接收信号来检测希望波的功率;干扰波功率检测部件,根据上述接收信号来检测干扰波的功率;平均部件,在多个处理单位范围内对上述干扰波功率检测部件的输出进行平均;控制部件,根据上述干扰波功率检测部件的输出来检测干扰波功率的变动量,按照检测出的变动量来控制上述平均部件中的平均区间;以及SIR计算部件,求上述希望波功率检测部件的输出和上述平均部件的输出之比。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/01800033.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top