[发明专利]半导体测试装置及其监视装置无效
| 申请号： | 01801661.8 | 申请日： | 2001-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN1383491A | 公开（公告）日： | 2002-12-04 |
| 发明（设计）人： | 佐藤敦;中村政文;井畑刚裕 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 杨晓光,陈海红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种可以监视继电器动作次数等的测试履历的半导体测试装置及其监视装置。为此,在由总线的信号信息控制各测试电路,进行被测定器件的测试的半导体测试装置中设置多个缓冲存储器,交替写入上述总线的信号信息;计算机,交替读出这该多个缓冲存储器的信号信息,作为文件保存、解析,具备可以监视测试履历的解决方案。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 装置 及其 监视 | ||
【主权项】：
1.一种半导体测试装置，设置有：存储装置，写入控制信号；解析装置，解析从该存储装置中读出的信号信息；寿命预测装置，用通过该解析装置得到的解析信息，进行有寿命零件的寿命预测。
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