[发明专利]特异结合分析方法及用于其的特异结合分析装置有效
申请号: | 01802892.6 | 申请日: | 2001-12-25 |
公开(公告)号: | CN1401078A | 公开(公告)日: | 2003-03-05 |
发明(设计)人: | 権丈纪子;龟井明仁;河村达朗;濑冈正刚;高桥三枝;田中宏桥 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G01N33/543 | 分类号: | G01N33/543 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 马铁良,叶恺东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 为提供减少前界现象、本底及杂质的影响,能对试料中的分析对象物简便、迅速且正确地定量或定性的特异结合分析方法及用于其的特异结合分析装置,预先按包含设想的分析对象物的各试料,生成与来自特异结合反应的信号强度有关的数据库,基于上述数据库决定试料的信号强度的测定模式,从而决定上述试料中的分析对象物的浓度。 | ||
搜索关键词: | 特异 结合 分析 方法 用于 装置 | ||
【主权项】:
1.一种特异键合分析方法,其根据由试料中的分析对象物与针对该分析对象物具有特异键合特性的特异键合物质之间的特异键合反应所产生的信号对上述试料中的分析对象物进行定量,其特征在于:包括(a)按预先包含分析对象物的各种试料,生成至少包含以下内容的数据库的工序:由上述分析对象物与针对上述分析对象物具有特异键合性的特异键合物质之间的特异键合反应所产生的信号强度的饱和值或变化与上述分析对象物的浓度的关系、上述信号强度的经时变化以及上述饱和值被获取的时间ts及上述信号强度的极大值被获取的时间tm;(b)准备包含分析对象物的试料,基于上述数据库,决定与上述试料对应的上述信号强度的测定模式的工序;(c)使上述分析对象物与特异键合物质发生特异键合反应的工序;(d)在上述工序(c)后,基于上述测定模式,在基于上述特异键合反应的信号强度达到饱和之前的期间内,对上述信号强度至少测定2次的工序;(e)利用在上述工序(d)中得到的至少2个信号强度,基于上述数据库,对上述试料中的分析对象物的量进行确定的工序。
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