[发明专利]试纸测量方法及测量装置无效
| 申请号： | 01804457.3 | 申请日： | 2001-01-30 |
| 公开（公告）号： | CN1164927C | 公开（公告）日： | 2004-09-01 |
| 发明（设计）人： | 森正昭;二宫正夫;井上友邦;池上英司;田中亮 | 申请（专利权）人： | 大塚制药株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/86 | 分类号： | G01N21/86 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李德山 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在一种试纸测量方法中，其中在试纸(4)被移动的同时进行显色测量，检测试纸背景的光学特性R和出现在试纸上的测试线(4b)的光学特性T，并且基于R和T之间的差值或比值来判定该试纸。即使该试纸背景的光学特性呈现出差异，并且即使样品间或试纸间存在着差异，这些差异也可被消除(absorbed)，从而确保准确的判定。 | ||
| 搜索关键词： | 试纸 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种试纸测量方法，用于在试纸被移动的同时进行试纸的反射强度、透射强度或萤光强度的测定，包括以下步骤：检测试纸背景的光学特性R；将所述试纸的任意部分的光学特性和所述试纸的背景部分的光学特性之间的差值与一个阈值进行比较，当所述差值大于所述阈值时，确定出现在所述试纸上的部分为测试线；检测已出现在所述试纸上的所述测试线的光学特性T；和基于所述R和所述T的差值或比值对所述试纸的反射强度、透射强度或萤光强度进行定量测量或定性判定。
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