[发明专利]单晶生长方法及单晶生长装置有效

专利信息
申请号: 01805759.4 申请日: 2001-12-26
公开(公告)号: CN1406291A 公开(公告)日: 2003-03-26
发明(设计)人: 阿部孝夫;山田透 申请(专利权)人: 信越半导体株式会社
主分类号: C30B15/00 分类号: C30B15/00;C30B29/06
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 黄剑锋
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种切克劳斯基法(CZ法)的单晶生长方法和单晶生长装置。其特征为至少在结晶生长界面近旁以包围拉晶中的单晶的形态配置由铜或比铜热传导率更高的金属所形成的冷却筒,且通过使冷却媒体在该冷却筒中流动,强制性冷却结晶成长界面近旁进行单晶生长。藉此,提供一种即使成长具300mm以上直径的硅单晶,也可对成长中的单晶发挥最大限度的冷却效果,以提供结晶成长速度高速化的单晶生长方法及单晶生长装置。
搜索关键词: 生长 方法 装置
【主权项】:
1.一种单晶生长方法,其是通过切克劳斯基法(CZ法)生长单晶的方法,其特征是:至少在结晶成长界面近旁以包围拉晶中的单晶的形态而配置由铜或比铜热传导率更高的金属所形成的冷却筒,且通过使冷却媒体在该冷却筒中流动,强制性冷却结晶成长界面近旁而进行单晶生长的。
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