[发明专利]用于集成电路的可控制和可测试的振荡器有效
| 申请号： | 01807093.0 | 申请日： | 2001-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN1419653A | 公开（公告）日： | 2003-05-21 |
| 发明（设计）人： | D·L·阿尔贝安 | 申请（专利权）人： | 汤姆森许可公司 |
| 主分类号： | G01R31/30 | 分类号： | G01R31/30;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 邹光新,梁永 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种集成电路(IC)包括内部时钟发生器装置，它提供集成电路的各种操作模式。内部时钟发生器装置包括时钟发生器部分，它可操作来为集成电路的各种电路/逻辑电路提供时钟信号，以及控制部分，它可操作以接收控制信号以使集成电路操作在各种模式之一。特别是，时钟发生器装置响应于最好来自外部源的控制信号以旁路时钟信号，引入用于数字测试的测试信号，并隔离和/或测量通过时钟发生器装置的时钟发生器部分的延迟。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 控制 测试 振荡器 | ||
【主权项】：
1.一种集成电路，包括：可操作以产生第一时钟信号的振荡器；和控制装置，它响应于来自集成电路外部的源的控制信号并可操作以使集成电路操作在以下情况之一：a)第一操作模式，在此期间集成电路响应于第一时钟信号操作并在集成电路的输出端产生第一输出信号；以及b)第二操作模式，在此期间第一时钟信号被提供在集成电路的输出端。
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