[发明专利]具有凸起的样品表面的芯片无效
| 申请号： | 01807348.4 | 申请日： | 2001-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN1444646A | 公开（公告）日： | 2003-09-24 |
| 发明（设计）人： | P·F·因德尔米勒;F·G·佐格;P·瓦格纳;S·诺克 | 申请（专利权）人： | 齐翁米克斯股份有限公司 |
| 主分类号： | C12M1/18 | 分类号： | C12M1/18 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 徐迅 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了具有基底(2)和包括柱(20(a，b))的样品结构(25(a，b))的测试仪器，基底(22)是非样品表面。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 凸起 样品 表面 芯片 | ||
【主权项】：
1.一种芯片，其特征在于，它包括：a)有非样品表面的基底；b)至少一个结构，各结构包括柱和相对于上述非样品表面凸起的用于从分配器接受样品的样品表面。
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