[发明专利]离子辐射的光谱分辨检测

摘要

在检测器中用于离子辐射的光谱分辨检测，该检测器包括以可电离的物质填充的室(13)、辐射入口(33)、电子雪崩放大装置和读出结构(29)，包括将辐射束(1)以与第一和第二电极结构基本平行地引入到在其间的室中以电离可电离的物质并雪崩放大所述电子。通过读出结构(29)分别检测主要从在引入的辐射束的方向上间隔开的室的部分(X1，X2，…，XN)的电离作用中得到的电子雪崩(SX1，SX2，…，SXN)。从光谱分辨的吸收系数中推导对于所述宽带辐射(1)的不同的光谱分量(E1，E2，…，EM)和对于室的不同的部分(X1，X2，…，XN)的加权系数(W11，W21，…，WM1，W12，W22，…，WM2，…，W1N，W2N，…，WMN)，每个所述加权系数与在相应的部分(X1，X2，…，XN)中的相应的光谱分量(E1，E2，…，EM)的光子通量(φ11，φ21，…，φM1，φ12，φ22，…，φM2，…，φ1N，φ2N，…，φMN)基本成比例。最后，通过所述检测的电子雪崩和所述加权系数，推导从通过所述宽带辐射的相应光谱分量的电离作用中得到的相应的检测的电子雪崩(SE1，SE2，…，SEM)。

主权项

1.一种用于在检测器中离子辐射光谱分辨检测的方法，该检测器包括以可电离的物质填充的室(13)，并且包括第一(17，18)和第二(27，29)电极结构、辐射入口(33)、电子雪崩放大装置和读出结构(29)，所述方法包括：-将辐射束(1)以与第一和第二电极结构基本平行地引入到在其间的室中以电离可电离的物质，所述辐射束(1)包括辐射的宽带光谱；以及-雪崩放大在电离的过程中产生的电子；其特征在于如下的步骤：-通过读出结构(27，29)分别检测电子雪崩和/或对应地产生的离子SX1，SX2，…，SXN，该SX1，SX2，…，SXN是主要从在引入的辐射束的方向上间隔开的室的部分X1，X2，…，XN中的电离中得到；-提供在所述可电离的物质中的所述宽带辐射的吸收的光谱分辨的吸收数据；-从吸收系数中推导对于所述宽带辐射(1)的不同的光谱分量E1，E2，…，EM和对于室的不同的所述隔开的部分X1，X2，…，XN的加权系数W11，W21，…，WM1，W12，W22，…，WM2，…，W1N，W2N，…，WMN；以及-通过主要从室的不同部分的电离中得到的所述检测的电子雪崩和/或对应产生的离子SX1，SX2，…，SXN和所述加权系数，推导相应的检测的电子雪崩和/或对应产生的离子SE1，SE2，…，SEM，其从由所述宽带辐射的相应光谱分量的电离得到。