[发明专利]不均匀挠曲和/或凹陷检测器以及结构的检测方法无效

专利信息
申请号: 01808254.8 申请日: 2001-04-17
公开(公告)号: CN1425126A 公开(公告)日: 2003-06-18
发明(设计)人: 伯纳德·胡达克 申请(专利权)人: 伯纳德·胡达克
主分类号: G01B5/30 分类号: G01B5/30;G01B21/32
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨松龄
地址: 暂无信息 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种检测方法,该方法包括:通过将每一部件的基板(4)施压于结构的表面,以将一组部件(1)固定在待测结构上,部件(1)之间通过铰链(2)相互连接,部件(1)之间的角位移由检测装置(19)来检测。将检测装置接收到的信号通过处理单元(29)作处理。本发明特别适合于预制和预缆(pre-cabled)检测器的简单安装。
搜索关键词: 不均匀 挠曲 凹陷 检测器 以及 结构 检测 方法
【主权项】:
1、一种不均匀挠曲和/或凹陷检测器,其特征在于包括:一组至少两个通过连接装置(2)相互连接的部件(1),该组部件组与待测不均匀挠曲和/或凹陷的结构(12)表面(13,34)的形状相配;和用于检测两个相邻部件(1)之间相对角位移的检测装置(19)。
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